掃描式電子顯微鏡( JEM-7600F) (EPMA 200F→SEM 7600F)

編號	33
位置	材料科技館R119
用途	電子顯微鏡觀察(SEM)：高倍率放大觀察元件、薄膜等微細結構或剖面結構
管理者	吳子游
管理者Email	h96414116@gmail.com
分機電話	03-5715131 #33896

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