掃描式電子顯微鏡( JEM-7600F) (EPMA 200F→SEM 7600F)
| 編號 | 33 |
| 位置 | 材料科技館R119 |
| 用途 | 電子顯微鏡觀察(SEM):高倍率放大觀察元件、薄膜等微細結構或剖面結構 |
| 管理者 | 吳子游 |
| 管理者Email | h96414116@gmail.com |
| 分機電話 | 03-5715131 #33896 |
| 編號 | 33 |
| 位置 | 材料科技館R119 |
| 用途 | 電子顯微鏡觀察(SEM):高倍率放大觀察元件、薄膜等微細結構或剖面結構 |
| 管理者 | 吳子游 |
| 管理者Email | h96414116@gmail.com |
| 分機電話 | 03-5715131 #33896 |