掃描式電子顯微鏡( JEM-7600F) (EPMA 200F→SEM 7600F)
編號
33
位置
材料科技館R119
用途
電子顯微鏡觀察(SEM)：高倍率放大觀察元件、薄膜等微細結構或剖面結構
管理者
吳子游
管理者Email
h96414116@gmail.com
分機電話
03-5715131 #33896