材料科學工程學系
高解析度場發射電子微探儀(EPMA 200F)
| 編號 | 17 |
| 位置 | 材料科技館 R112 |
| 用途 | 場發射高解析電子微探儀(EPMA)可以針對金屬材料、電子材料、陶瓷材料、礦物進行微區域之成份定性及定量分析，大區域和高倍率(100,000X 以內 ) 之元素特性Ｘ光、二次電子、背向散射電子(BEI)等影像觀察，其測定之精確度比一般EDS高許多，是微區域成份分析很好的工具。 |
| 管理者 | 許聖右 |
| 管理者Email | ru5560139@gmail.com |
| 分機電話 | 03-5715131#33857 |
| 編號 | 17 |
| 位置 | 材料科技館 R112 |
| 用途 | 場發射高解析電子微探儀(EPMA)可以針對金屬材料、電子材料、陶瓷材料、礦物進行微區域之成份定性及定量分析，大區域和高倍率(100,000X 以內 ) 之元素特性Ｘ光、二次電子、背向散射電子(BEI)等影像觀察，其測定之精確度比一般EDS高許多，是微區域成份分析很好的工具。 |
| 管理者 | 許聖右 |
| 管理者Email | ru5560139@gmail.com |
| 分機電話 | 03-5715131#33857 |