霍氏紅外線光譜儀(FT-IR)(Horiba F730)

編號	25
位置	材料科技館R101-B
用途	可分段量測10~10000 cm^-1之吸收光譜，一般IR在500~4000 cm^-1之間解析度最高可達0.06 cm^-1，再現性優於0.5%。
管理者	吳宇凡
管理者Email	austinwu715@gmail.com
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