霍氏紅外線光譜儀(FT-IR)(Horiba F730)
編號
25
位置
材料科技館R101-B
用途
可分段量測10~10000 cm
-1
之吸收光譜，一般IR在500~4000 cm
-1
之間解析度最高可達0.06 cm
-1
，再現性優於0.5%。
管理者
吳宇凡
管理者Email
austinwu715@gmail.com
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