四點探針量測系統

編號	25
位置	材料科技館 R101-A
用途	可以經由輸入薄膜厚度、試片大小，即可量測待測物之 1.電阻值 Resistance 2.片電阻率 Sheet resistivity 3.體電阻率 Volume resistivity 4.電導率 Conductivity
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