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冷場發射掃描式電子顯微鏡(SEM-6701F)

名稱 冷場發射掃描式電子顯微鏡(SEM-6701F)
位置 材料實驗館 R110-C
用途 樣品表面和近表面提供高解析度和長景深的圖像,能夠快速提供非常精細的圖像。
管理者 鍾佳辰
管理者Email chellie312@gapp.nthu.edu.tw
分機電話 03-5715131#35398

 

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