冷場發射掃描式電子顯微鏡（SEM-6701F）
名稱
冷場發射掃描式電子顯微鏡（SEM-6701F）
位置
材料實驗館 R110-C
用途
樣品表面和近表面提供高解析度和長景深的圖像，能夠快速提供非常精細的圖像。
管理者
鍾佳辰
管理者Email
chellie312@gapp.nthu.edu.tw
分機電話
03-5715131#35398