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掃描式電子顯微鏡(SEM)( JEM-7401F)

名稱 掃描式電子顯微鏡(SEM)( JEM-7401F)
位置 材料實驗館 R112
用途 拍攝試片表面形貌及微結構
管理者 朱育德
管理者Email peter1999824@gmail.com
分機電話 03-5715131#33876

 

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