掃描式電子顯微鏡(SEM)( JEM-7401F)
名稱
掃描式電子顯微鏡(SEM)( JEM-7401F)
位置
材料實驗館 R112
用途
拍攝試片表面形貌及微結構
管理者
朱育德
管理者Email
peter1999824@gmail.com
分機電話
03-5715131#33876