材料科學工程學系
[分析]場發射掃描式電子顯微鏡(JEOL JSM-6500F)(FESEM)
| 編號 | 4 |
| 位置 | 材料科技館117-B室 |
| 用途 | FESEM相較傳統SEM，在光源和透鏡系統的改良，可有更佳的表面形貌影像分辨率，加上EDS及CL等附件可作微區成份分佈和陰極螢光光譜的分析。 |
| 管理者 | 蕭仲軒同學 |
| 管理者 Email | emailev01@gmail.com |
| 分機電話 | 33829 |
| 設備說明 | 場發射掃描式電子顯微鏡 |
| 編號 | 4 |
| 位置 | 材料科技館117-B室 |
| 用途 | FESEM相較傳統SEM，在光源和透鏡系統的改良，可有更佳的表面形貌影像分辨率，加上EDS及CL等附件可作微區成份分佈和陰極螢光光譜的分析。 |
| 管理者 | 蕭仲軒同學 |
| 管理者 Email | emailev01@gmail.com |
| 分機電話 | 33829 |
| 設備說明 | 場發射掃描式電子顯微鏡 |