貴儀-高功率多功能X光繞射儀(XRD D8)
編號
34
位置
材料科技館R125
用途
除了一般傳統X光衍射量測實驗，可作材料之晶體結構（Phase ID）、晶格常數（Lattice Parameter）、定性分析（Crystal Qualitative Analysis）之外，本設備搭配不同掃瞄模式及分析軟件，可針對多層薄膜作膜厚（Thinckness）、密度（Density）；針對單晶或微晶薄膜）。
管理者
黃煜皓
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