材料科學工程學系
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(ARM-200FTH)
| 名稱 | 場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(ARM-200FTH) |
| 位置 | 合金鋼廠1樓TEM實驗室 |
| 用途 | 1. 穿透式電子顯微鏡：明場像(bright-field (BF) image)/暗場像(dark-field (DF) image)/高分辨電鏡影像(high-resolution electron microscopy image,HREM image)。 2. 擇區繞射圖譜(selected area diffraction pattern, SADP)。 3. 掃描穿透式電鏡(scanning transmission electron microscope,STEM)：高角度環形暗場像(high angle annular dark field,HAADF)。 |
| 管理者 | 詹敦潔 |
| 管理者Email | djjhan27073@gmail.com |
| 分機電話 | 03-5715131 #33865 |