場發射掃描式電子顯微鏡（FESEM-8010）
名稱
場發射掃描式電子顯微鏡（FESEM-8010）
位置
材料科技館 R115-C
用途
1.電子顯微鏡觀察(SEM)：高倍率放大觀察元件、薄膜等微細結構或剖面結構
2.表面能階分析(EDS)：特定位置表面材料成分電子能階光譜分析，用以判斷化學成分
管理者
呂文軒
管理者Email
a910079day@gmail.com
分機電話
03-5715131#35358、#33808或#35362